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Translation of "plaquette d'essai du circuit intégré " (French → English) :

TERMINOLOGY
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plaquette d'essai du circuit intégré

http://iate.europa.eu/FindTerm (...) (...) [HTML] [2017-12-31]

i-c bread-board | integrated-circuit breadboard

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http://iate.europa.eu/FindTerm (...) [HTML] [2017-12-31]

support d'essai de circuit intégré

http://iate.europa.eu/FindTerm (...) (...) [HTML] [2017-12-31]

integrated-circuit test clip

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http://iate.europa.eu/FindTerm (...) [HTML] [2017-12-31]

outil d'essai de circuits intégrés

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testing tool for integrated circuits

http://iate.europa.eu/FindTerm (...) (...) [HTML] [2017-12-31]

http://iate.europa.eu/FindTerm (...) [HTML] [2017-12-31]

surveillant de la fabrication de plaquettes à circuits intégrés [ surveillante de la fabrication de plaquettes à circuits intégrés ]

http://www.btb.termiumplus.gc. (...) (...) [HTML] [2018-01-01]

integrated-circuit-board fabrication supervisor

http://www.btb.termiumplus.gc. (...) (...) [HTML] [2018-01-01]

http://www.btb.termiumplus.gc. (...) [HTML] [2018-01-01]

circuit intégré grandeur plaquette [ circuit intégré à l'échelle d'une tranche ]

http://www.btb.termiumplus.gc. (...) (...) [HTML] [2018-01-01]

wafer-scale integrated circuit [ wafer-scale IC ]

http://www.btb.termiumplus.gc. (...) (...) [HTML] [2018-01-01]

http://www.btb.termiumplus.gc. (...) [HTML] [2018-01-01]

plaquette de circuits intégrés

http://www.btb.termiumplus.gc. (...) (...) [HTML] [2018-01-01]

integrated circuit board

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http://www.btb.termiumplus.gc. (...) [HTML] [2018-01-01]

IN-CONTEXT TRANSLATIONS

Machines et appareils utilisés exclusivement ou principalement pour la fabrication des lingots, des plaquettes ou des dispositifs à semi-conducteur, des circuits intégrés électroniques ou des dispositifs d'affichage à écran plat; machines et appareils visés à la note 9 C) du présent chapitre; parties et accessoires

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) (...) [HTML] [2017-12-31]

Machines and apparatus of a kind used solely or principally for the manufacture of semiconductor boules or wafers, semiconductor devices, electronic integrated circuits or flat panel displays; machines and apparatus specified in note 9(C) to this chapter; parts and accessories

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) (...) [HTML] [2017-12-31]

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) [HTML] [2017-12-31]

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) (...) [HTML] [2014-06-22]

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) [HTML] [2014-06-22]

Essais des cartes à circuits intégrés conformément aux normes de la série ISO 10373

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) (...) [HTML] [2012-05-03]

Smart card testing according to ISO 10373 series

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) (...) [HTML] [2012-05-03]

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) [HTML] [2012-05-03]

L'affaire concerne la construction d'une nouvelle usine pour la production de plaquettes de silicium sur la base de la nouvelle technologie de 300 mm. Les plaquettes de silicium sont utilisées notamment pour la fabrication de mémoires instantanées, de microprocesseurs ou de circuits intégrés de télécommunication.

http://europa.eu/rapid/press-r (...) (...) [HTML] [2004-02-17]

The case concerns the construction of a new plant for the production of silicon wafers on the basis of the new 300mm technology. Silicon wafers are inputs used for the manufacture of, e.g., flash memories, microprocessors or telecom ICs.

http://europa.eu/rapid/press-r (...) (...) [HTML] [2004-02-17]

http://europa.eu/rapid/press-r (...) [HTML] [2004-02-17]

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b. pour le test de circuits intégrés capables d'exécuter des essais de base (table de vérité) à une 'cadence de signal' supérieure à 333 MHz;

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) (...) [HTML] [2003-01-26]

b. For testing integrated circuits capable of performing functional (truth table) testing at a 'pattern rate' of more than 333 MHz;

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) (...) [HTML] [2003-01-26]

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) [HTML] [2003-01-26]

b. pour le test de circuits intégrés capables d'exécuter des essais de base (table de vérité) à une "cadence de signal" supérieure à 333 MHz;

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) (...) [HTML] [2001-11-19]

b. For testing integrated circuits capable of performing functional (truth table) testing at a "pattern rate" of more than 333 MHz;

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) (...) [HTML] [2001-11-19]

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) [HTML] [2001-11-19]

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Date index: 2021-11-11