(2) Where a device is tested for performance and a specific value for the known test quantity is not set out in the applicable table to this Part or in specifications established pursuant to subsection 13(1), the acceptance limits of error and in-service limits of error shall be determined by linear interpolation between the lower and higher limits of error nearest to the known test quantity.
(2) Pour les essais de fonctionnement d'un instrument, lorsque la quantité de charge connue ne figure pas dans le tableau applicable de la présente partie ou dans les normes établies en vertu du paragraphe 13(1), la marge de tolérance à l'acceptation et la marge de tolérance en service se calculent par interpolation linéaire, en fonction des marges de tolérance inférieures et supérieures les plus proches de la quantité de charge connue.
