Machines-outils travaillant par enlèvement de toute matière et opérant par laser ou autre faisceau de lumière ou de photons, par ultrasons, par électro-érosion, par procédés électrochimiques, par faisceaux d'électrons, par faisceaux ioniques ou par jet de plasma; machines à découper par jet d'eau

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) (...) [HTML] [2017-12-31]

Machine tools for working any material by removal of material, by laser or other light or photon beam, ultrasonic, electrodischarge, electrochemical, electron beam, ionic-beam or plasma arc processes; water-jet cutting machines

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) (...) [HTML] [2017-12-31]

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) [HTML] [2017-12-31]

b) lasers à argon ionisé possédant une puissance de sortie moyenne supérieure à 40 W, fonctionnant sur des longueurs d’onde comprises entre 400 nm et 515 nm;

http://laws-lois.justice.gc.ca (...) (...) [HTML] [2014-09-25]

(b) argon ion lasers with greater than 40 W average output power operating at wavelengths between 400 nm and 515 nm;

http://laws-lois.justice.gc.ca (...) (...) [HTML] [2014-09-25]

http://laws-lois.justice.gc.ca (...) [HTML] [2014-09-25]

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) (...) [HTML] [2014-06-22]

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) [HTML] [2014-06-22]

32. L'oxyde de plomb dans le joint de scellement des fenêtres entrant dans la fabrication des tubes laser à l'argon et au krypton.

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) (...) [HTML] [2011-06-07]

32. Lead oxide in seal frit used for making window assemblies for Argon and Krypton laser tubes.

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) (...) [HTML] [2011-06-07]

https://eur-lex.europa.eu/lega (...) [HTML] [2011-06-07]

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20 quatervicies L'oxyde de plomb dans le joint de scellement des fenêtres entrant dans la fabrication des tubes laser à l'argon et au krypton

http://www.europarl.europa.eu/ (...) (...) [HTML] [2010-11-21]

20w Lead oxide in seal frit used for making window assemblies for Argon and Krypton laser tubes.

http://www.europarl.europa.eu/ (...) (...) [HTML] [2010-11-21]

http://www.europarl.europa.eu/ (...) [HTML] [2010-11-21]

Je pense par exemple aux travaux que nous avons menés sur la photonique du spectre et qui ont finalement abouti à la mise au point d'une technique d'imagerie au laser à argon qui a transformé la technologie d'identification humaine et a permis les techniques d'empreintes digitales avancées qu'utilisent aujourd'hui les organismes d'application de la loi du monde entier.

http://www.parl.gc.ca/HousePub (...) (...) [HTML] [2012-11-05]

A little-known example of this is our work in spectrum photonics, which ultimately led to the development of an argon-based laser imaging technique that transformed human identification technology and enabled advanced fingerprinting now used by law enforcement agencies worldwide.

http://www.parl.gc.ca/HousePub (...) (...) [HTML] [2012-11-05]

http://www.parl.gc.ca/HousePub (...) [HTML] [2012-11-05]

32. L'oxyde de plomb dans le joint de scellement des fenêtres entrant dans la fabrication des tubes laser à l'argon et au krypton.

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) (...) [HTML] [2007-12-12]

32. Lead oxide in seal frit used for making window assemblies for Argon and Krypton laser tubes.

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) (...) [HTML] [2007-12-12]

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) [HTML] [2007-12-12]

6". lasers" à krypton ionisé ou à argon ionisé présentant l'une des caractéristiques suivantes:

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) (...) [HTML] [2003-01-26]

6. Krypton ion or argon ion "lasers" having any of the following:

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) (...) [HTML] [2003-01-26]

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) [HTML] [2003-01-26]

2. équipements spécialement conçus pour la production de masques ou le traitement de dispositifs semi-conducteurs, utilisant un faisceau électronique, un faisceau ionique ou un faisceau "laser" avec focalisation et balayage du faisceau, présentant l'une des caractéristiques suivantes:

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) (...) [HTML] [2003-01-26]

2. Equipment specially designed for mask making or semiconductor device processing using deflected focused electron beam, ion beam or "laser" beam, having any of the following:

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) (...) [HTML] [2003-01-26]

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) [HTML] [2003-01-26]

La perturbation la plus importante résulte des combinaisons ioniques moléculaires de l'argon (gaz plasma), de l'hydrogène, du carbone, de l'azote et de l'oxygène (acides de dissolution, impuretés du gaz plasma et gaz atmosphériques entraînés) et de la matrice de l'échantillon.

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) (...) [HTML] [2002-08-11]

Most severe interference results from molecular ion combinations of argon (plasma gas), hydrogen, carbon, nitrogen and oxygen (dissolution acids, plasma gas impurities and entrained atmospheric gases) and the sample matrix.

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) (...) [HTML] [2002-08-11]

http://eur-lex.europa.eu/legal (...) [HTML] [2002-08-11]

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laser ionique à argon ->

Date index: 2021-11-23