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MEB
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Microscope en transmission à balayage
Microscope à balayage
Microscope à balayage par transmission
Microscope à balayage à effet tunnel
Microscope à balayage électronique
Microscope à effet tunnel
Microscope électronique en transmission à balayage
Microscope électronique à balayage
Microscope électronique à balayage de surface
Microscope électronique à balayage par transmission
Microscope électronique à effet tunnel
Microscopie à balayage électronique
Microscopie électronique à balayage
Photographie au microscope électronique à balayage
Photographie en microscopie électronique à balayage

Translation of "microscope électronique à balayage " (French → English) :

TERMINOLOGY
see also In-Context Translations below
microscope électronique à balayage [ MEB | microscope à balayage électronique | microscope électronique à balayage de surface | microscope à balayage ]

scanning electron microscope [ SEM | scanning electronic microscope | scanning EM ]


microscope électronique à balayage | MEB

scanning electron microscope | SEM


microscope électronique en transmission à balayage | METB | microscope en transmission à balayage | microscope électronique à balayage par transmission | MEBT | microscope à balayage par transmission

scanning transmission electron microscope | STEM


spectrométrie de rayons X à l'aide de microscope électronique à balayage [ spectrométrie de rayons X à l'aide de microscope à balayage ]

scanning electronic microscope/X-ray diffraction


photographie en microscopie électronique à balayage [ photographie au microscope électronique à balayage ]

scanning electron microscope photograph [ SEM photograph ]


microscope électronique à balayage | MEB [Abbr.]

scanning electron microscope | SEM [Abbr.]


microscope électronique à balayage par transmission | MEBT [Abbr.]

scanning transmission electron microscope


microscope à effet tunnel | microscope électronique à effet tunnel | microscope à balayage à effet tunnel

scanning tunneling microscope | STM | scanning tunnelling microscope | scanning tunneling electron microscope | scanning tunnelling electron microscope


microscopie à balayage électronique | microscopie électronique à balayage | MEB [Abbr.]

Scanning Electron Microscopy | SEM [Abbr.]
IN-CONTEXT TRANSLATIONS
L'invention du microscope à balayage à effet tunnel a marqué une étape dans la genèse de la nanotechnologie.

The invention of the Scanning Tunnelling Microscope was a landmark in the birth of nanotechnology.


9. Microscopes électroniques de faible énergie : dispositifs d’optique électronique à transmission ou à balayage, ayant une énergie de fonctionnement de 500 kilo-électronvolts (keV) ou moins, dans lesquels on utilise un faisceau d’électrons, focalisé par des lentilles électroniques, pour produire sur un écran fluorescent, une plaque photographique ou un autre système de visualisation, une image agrandie d’un objet de petite taille.

9. Low Energy Electron Microscopes being electron-optical devices with an operating energy of 500 kilo-electron volts (keV) or less in which a beam of electrons, focused by means of electron lenses, is used to produce an enlarged image of a minute object on a fluorescent screen, photographic plate or any other detector-display system, including both the transmission and scanning types of devices.


2. Chaque microscope électronique de faible énergie doit être conçu

2. Every low energy electron microscope shall be designed in such a way that


5. Chaque microscope électronique de faible énergie doit fonctionner de façon que,

5. Every low energy electron microscope shall function in such a way that


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4. Chaque microscope électronique de faible énergie doit être conçu et construit de façon à posséder les dispositifs de sécurité suivants :

4. Every low energy electron microscope shall be designed and constructed to include the following safety features:


3. Chaque microscope électronique de faible énergie doit être conçu et construit de façon à fonctionner conformément aux normes de fonctionnement décrites à l’article 5 tant que le dispositif est constitué des éléments d’origine ou d’éléments de remplacement recommandés par le fabricant.

3. Every low energy electron microscope shall be designed and constructed in such a way that it functions in accordance with the standards of functioning described in section 5 for as long as the device has its original components or has replacement components recommended by the manufacturer.


l'exploitation de générateurs ou d'accélérateurs de rayonnements, à l'exception des microscopes électroniques, ou de sources radioactives à des fins non visées au point a).

the operation of radiation generators or accelerators, except electron microscopes, or radioactive sources for purposes not covered by point (a).


l’emploi de générateurs de rayonnements ou de sources radioactives à des fins de radiographie industrielle, de traitement de produits ou de recherche et l’emploi d’accélérateurs autres que les microscopes électroniques;

the use of radiation generators or radioactive sources for industrial radiography, the processing of products or research, and the use of accelerators, except electron microscopes;


b. caméras électroniques à balayage, caméras électroniques à image intégrale, tubes et dispositifs, comme suit:

b. Electronic streak cameras, electronic framing cameras, tubes and devices, as follows:


1. caméras électroniques à balayage capables d'une résolution temporelle de 50 ns ou moins;

1. Electronic streak cameras capable of 50 ns or less time resolution;


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